XPS анализ поверхности

Сравнительный анализ XPS поверхности
для определения чистоты.
(для бора, абатментов, заглушек и т. д.)

Периодически случайным образом выбирается партия изделия и исследуется на предмет чистоты поверхности (XPS=радио-фото-электроспектроскопия).

Анализ XPS (рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия) - это признанный метод качественного анализа для определения химического состава твёрдых тел без их разрушения. В ходе данного анализа выясняют, из каких элементов состоит твёрдое тело.

Для чистоты проверки ICX продуктов, берутся изделия  разных степеней очистки и сравниваются между собой. Поверхность проверяемых изделий и её элементарного составав исследуется на глубину в 3 мкм.

Результат - это мера чистоты поверхности (наличие или отсутствие загрязнений).

 

 

XPS_Oberflaeche.jpgОбласть изучения  А                     Область изучения В

 

 

Два измеряемых поля (область А, область В) определяются для XPS анализа, здесь на примере бора ICX.

Результаты этих непрерывных исследований должны длительно обеспечивать, чтобы если Вы осуществляли определенные для продуктов ICX процессы чистки на практике, это ведет к высокой степени чистоты.